磁粉靈敏度試片

A型靈敏度試片最先由日本無損檢測學會提出，以后為多個國家使用，主要用于零部件的射線無損檢測設備磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質的工作，可以正確地選擇磁化規范，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者必備的調試工具。

特 點：
試片用于磁粉顯示，圖象直觀，使用簡便。對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查形狀復雜的零件時，表現其獨特的優點。

性能規格：
A型標準試片分為A1、A2；A1為退火材料制成，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標準特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標準和美國ASME SE709標準相對應。本試片為A1 （15/50μ）標準試片。相當于A1型試片中2# (30/100μ)標準靈敏度試片，規格為（8-9）D；適用于中靈敏度探傷，其中括號中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為（微米），D為工件直徑。